塑料介电常数及介质损耗测试仪——航天伟创

LDJD-C型塑料介电常数及介质损耗测试仪——航天伟创

该介电常数仪测试系统由测试装置（夹具）、高频Q表、数据采集和自动测量控件以及电感器组成。依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。

系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的&佳解决方案。

工作特性

1.     平板电容器：

       极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm   可选

       极片间距可调范围：≥15mm

2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm

3. 夹具损耗正切值≤4×10^－4 （1MHz）

4．测微杆分辨率：0.001mm

工作原理

本测试装置主要由一个数显的微测量装置和一组间距可调的平板电容器组成，平板电容器用于夹持被测材料样品。而数显的微测量装置，用于显示被测材料样品的厚度。陪测设备介电常数及介质损耗测试仪作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进材料样品时的Q值变化，可测得绝缘材料的损耗角正切值。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算可得到绝缘材料介电常数。

北京航天伟创设备科技有限公司生产经营多种型号介电常数仪，具体如下：

LDJD-C型

LDJD-B型

LDJD-A型

LDJD-C型塑料介电常数及介质损耗测试仪——航天伟创